公司可针对芯片和元器件等提供靠得住性测试、寿命评估、失效分析以及自主可控验证等服务，辅助企业和用户发展质量验证和供给商筛选 。
合用产品类型
■ 芯片
■ 元器件
检测能力
环境试验
可发展各类型电子元件的气象环境试验、机械环境试验、靠得住性试验
规约试验
可发展芯片等电子元器件的国产化验证工作
检测能力领域
环境试验
GB/T 2423 电工电子产品环境试验系列尺度
GB/T 4208-2017 表壳防护等级
GB/T 29309-2012电工电子产品加快应力试验规程 高加快寿命试验导则（含随机振动）
GB/T 2689.1-1981 恒定应力寿命试验和加快寿命试验步骤总则
GB/T 2689.2-1981 寿命试验和加快寿命试验的图估计法（用于威布尔散布）
规约试验
ZHKP/FF-008-002-2024/0 电气设备元器件供给链靠得住性及元器件可控率等级判定步骤
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联系人
陈新美
联系电话
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联系邮箱
chenxinmei@ketop.cn
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